18665978223
首页 > 新闻中心 > 手机,手表等电子产品类跌落测试
新闻中心
手机,手表等电子产品类跌落测试
发布时间:2023-10-19        浏览次数:10        返回列表
手机,手表等电子产品类跌落测试

详细介绍:跌落测试-

跌落测试通常是主要用来模拟未包装/包装的产品在搬运期间可能受到的跌落,检验产品抗意外冲击的能力。通常跌落高度是根据产品重量以及可能掉落机率做为参考标准,落下表面应该是混凝土或钢制成的平滑、坚硬的刚性表面(如有特殊要求应以产品规格或客户测试规范来决定)。

跌落测试根据检验的目的及样品的类型不同,可以分为自由跌落、定向跌落、微跌落、零跌落。对于不同国际规范,即使产品在相同重量下但掉落高度也不相同,对于手持型产品(如手机,MP3等)大多数掉落高度大都介于100cm~150cm不等,IEC对于≤2kg之手持型产品建议应满足100cm之掉落高度不可损坏,MIL则建议掉落高度为122cm,Intel对手持型产品(如手机)则建议落下高度为150cm。试验的严苛程度取决于跌落高度、跌落次数、跌落方向。

参考标准

GB/T2423.8电工电子产品环境试验第2部分试验方法试验Ed:自由跌落IEC电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ed:自由跌落GB/T4857.5包装运输包装件跌落试验方法


新闻分类
最新发布
企业新闻
联系方式
  • 地址:深圳市宝安区西乡街道南昌社区航城大道华丰国际机器人产业园B栋一层
  • 手机:18665978223
  • 联系人:陈新